<< Click to Display Table of Contents >>
Navigation: 分析功能 > 面粗糙度 >
均方根(RMS) 高度是在取样区域内轮廓表面跟基准面的之间Z轴距离的均方根值。数学表达式为:
M和N分别为在取样区域内X轴和Y轴方向上的采样点数.
Sq是常用的粗糙度参数,在统计的领域里表示样品标准偏差.